Для цитирования:

Бочков К.А., Комнатный Д.В. МЕХАНИЗМЫ И ВЕРОЯТНОСТИ ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ СБОЕВ МИКРОЭЛЕКТРОННОЙ ЭЛЕМЕНТНОЙ БАЗЫ ПОД ДЕЙСТВИЕМ ИМПУЛЬСНЫХ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ПОМЕХ. Надежность. 2015;(3):65-72. https://doi.org/10.21683/1729-2646-2015-0-3-65-72

For citation:

Bochkov K.A., Komnatny D.V. MECHANISMS AND PROBABILITIES OF FUNCTIONAL FAILURES OF MICROELECTRONIC ELEMENT BASE UNDER ELECTROMAGNETIC PULSE INTERFERENCE. Dependability. 2015;(3):65-72. https://doi.org/10.21683/1729-2646-2015-0-3-65-72