<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">sustain</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Надежность</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Dependability</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">1729-2646</issn><issn pub-type="epub">2500-3909</issn><publisher><publisher-name>RAMS Journal Limited liability company</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.21683/1729-2646-2015-0-3-65-72</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">sustain-97</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ФУНКЦИОНАЛЬНАЯ НАДЕЖНОСТЬ. ТЕОРИЯ И ПРАКТИКА</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>FUNCTIONAL RELIABILITY. THE THEORY AND PRACTICE</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>МЕХАНИЗМЫ И ВЕРОЯТНОСТИ ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ СБОЕВ МИКРОЭЛЕКТРОННОЙ ЭЛЕМЕНТНОЙ БАЗЫ ПОД ДЕЙСТВИЕМ ИМПУЛЬСНЫХ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ПОМЕХ</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>MECHANISMS AND PROBABILITIES OF FUNCTIONAL FAILURES OF MICROELECTRONIC ELEMENT BASE UNDER ELECTROMAGNETIC PULSE INTERFERENCE</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Бочков</surname><given-names>К. А.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Bochkov</surname><given-names>K. A.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>доктор технических наук, профессор, проректор по научной работе, </p><p>priemnay@belsut.gomel.by</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Doctor of Technical Sciences, Professor, Vice Rector for Research</p></bio><email xlink:type="simple">bochkov1999@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Комнатный</surname><given-names>Д. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Komnatny</surname><given-names>D. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>кандидат технических наук, доцент, докторант кафедры «Автоматики и телемеханика»</p></bio><bio xml:lang="en"><p>PhD Engineering, Associate Professor, Doctoral Candidate of Chair of Signalling and Remote Control</p></bio><email xlink:type="simple">toe4031@gstu.by</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Белорусский государственный университет транспорта</institution><country>Беларусь</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Belarusian State University of Transport</institution><country>Belarus</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2015</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>06</day><month>07</month><year>2016</year></pub-date><volume>0</volume><issue>3</issue><fpage>65</fpage><lpage>72</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Бочков К.А., Комнатный Д.В., 2016</copyright-statement><copyright-year>2016</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Бочков К.А., Комнатный Д.В.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Bochkov K.A., Komnatny D.V.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.dependability.ru/jour/article/view/97">https://www.dependability.ru/jour/article/view/97</self-uri><abstract><p>В статье рассмотрены расчетно-экспериментальные методы определения вероятности функциональных сбоев электронной элементной базы под действием электромагнитных импульсных помех. Осуществлен анализ свойств случайного процесса импульсных помех и физических механизмов воздействия помех на электронные узлы. Разработаны способы вычисления вероятности сбоев на базе представления о вероятностной природе помех. Показано, что выполненный анализ помехового воздействия позволяет обосновать выбор условий эквивалентности импульсов, что является актуальной проблемой электромагнитной совместимости.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The paper considers computational and experimental methods for defining the probability of functional failures for the electronic component base under electromagnetic pulse interference. The analysis of the properties of the pulse interference random process and the physical mechanisms of interference influence on electronic node elements is carried out. The ways of failure probability calculation based on the concept of the probabilistic interference nature are elaborated. It is shown that the analysis of interference influence enables to prove the choice of pulse equivalence conditions, which is vital for electromagnetic compatibility.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>системы обеспечения безопасности</kwd><kwd>функциональный сбой</kwd><kwd>импульсные помехи</kwd><kwd>механизмы воздействия</kwd><kwd>вероятность сбоя</kwd><kwd>эквивалентность импульсов</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>safety systems</kwd><kwd>functional failure</kwd><kwd>pulse interference</kwd><kwd>mechanisms of influence</kwd><kwd>failure probability</kwd><kwd>pulse equivalence</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Шубинский И.Б. Функциональная надежность информационных систем. Методы анализа. - Ульяновск, типография «Печатный двор», 2012. - 296 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Shubinsky I.B. Functional reliability of information systems. Methods of analysis. – Ulyanovsk, printing house «Pechatny Dvor», 2012. – 296 p.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Коновалов Г.В., Тарасенко. И.М. Импульсные случайные процессы в электросвязи. - М. : Связь, 1973. - 304 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Konovalov G.V., Tarasenko I.М. Pulse random processes in telecommunication. – М. : Svyaz, 1973. – 304 p.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Иванов М.Т., Сергиенко А. Б., Ушаков В. Н. Радиотехнические цепи и сигналы. - Спб. : Питер, 2014. - 336 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ivanov М.Т., Sergienko А.B., Ushakov V.N. Radio circuits and signals. – SPb. : Piter, 2014. – 336 p.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Пирогов Ю.А., Солодов А.В. Повреждения интегральных схем в полях радиоизлучения. Журнал радиоэлектроники. - 2013. - № 6. - С. 10-15.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Pirogov Y.А., Solodov А.V. Defects of integrated circuits in radio fields. Radio electronics magazine. – 2013. – No 6. – P. 10–15.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Добыкин В.Д., Куприянов А.И., Пономарев В.Г., Шустов Л.Н. Радиоэлектронная борьба: Силовое поражение радиоэлектронных систем. - М.: Вузовская книга, 2007. - 468 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Dobykin V.D., Kupriyanov А.I., Ponomaryov V.G., Shustov L.N. Electronic warfare: Power defeat of radioelectronic systems. – М.: Vuzovskaya kniga, 2007. – 468 p.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Наумов Ю.Е., Аваев Н.А., Бедрековский М.А. Помехоустойчивость устройств на интегральных логических схемах. - М. : Советское радио, 1975. - 216 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Naumov Y.Е., Avaev N.А., Bedrekovsky М.А. Device immunity in integrated logical circuits. – М.: Soviet radio, 1975. – 216 p.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кечиев Л.Н. Проектирование печатных плат для цифровой быстродействующей аппаратуры. - М : ООО Группа «ИДТ», 2007. - 616 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kechiev L.N. Engineering of printed boards for digital high-speed equipment. – М.: ООО Group «IDT», 2007. – 616 p.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Певницкий В.П., Полозок Ю.В. Статистические характеристики индустриальных радиопомех. - М. : Радио и связь, 1988. - 246 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Pevnitsky V.P., Polozok Y.V. Statistics of man-made interference. – М.: Radio and communication, 1988. – 246 p.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кравченко В.И. Грозозащита радиоэлектронных средств. - М. : Радио и связь, 1991. - 264 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kravchenko V.I. Lightning protection of radioelectronic equipment. – М.: Radio and communication, 1991. – 264 p.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Аполлонский С.М., Горский А.Н. Расчеты электромагнитных полей. - М.: Маршрут, 2006. - 992 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Apollonsky S.М., Gorsky А.N. Calculations of electromagnetic fields. – М.: Marshrut, 2006. – 992 p.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Бочков К.А. Теория и методы контроля электромагнитной совместимости микроэлектронных систем обеспечения безопасности движения поездов : дис. … д-ра техн. наук. 05.22.08 / Московский ин-т. инженеров трансп. - М, 1993. - 379 с. : ил.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Bochkov К.А. Theory and methods of control of electromagnetic compatibility of train safety microelectronic systems: thesis for Dr. Sci. 05.22.08 / Moscow State University of Railway engineering. – М, 1993. – 379 p.: il.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Bochkov K.A. Principles of Achieving EMC of Microelectronic systems controlling major sequences of operations / K. A. Bochkov // Proceedings of 1994 International Symposium on Electromagnetic Compatibility / IEICE. - Tokyo : IEICE, 1994. - P. 610-613.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Bochkov K.A. Principles of achieving EMC of microelectronic systems controlling  major sequences of operations / K. A. Bochkov // Proceedings of 1994 International Symposium on Electromagnetic Compatibility / IEICE. – Tokyo: IEICE, 1994. – P. 610–613.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Bochkov K.A. Determination of EMC degree based on probability models of microelectronic systems ensuring railway traffic safety / K. A. Bochkov, I. E. Zakharov, N. V. Ryazantseva // Proceedings of International Symposium EMC’98, Rome, Italy, 1998 / University “La Sapienza”. - Roma : University “La Sapienza”, 1998. - P. 707-709.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Bochkov K.A. Determination of EMC degree based on probability models of microelectronic systems ensuring railway traffic safety / K. A. Bochkov, I. E. Zakharov, N. V. Ryazantseva // Proceedings of International Symposium EMC’98, Rome, Italy, 1998 / University “La Sapienza”. – Roma: University “La Sapienza”, 1998. – P. 707–709.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Бочков К.А., Березняцкий Ю.Ф., Рязанцева Н.В. Импульсы помех в эквивалентном представлении. Проблемы и перспективы развития устройств автоматики, связи и вычислительной техники на железнодорожном транспорте : сб. науч. тр. / РГУ ПС. - Ростов на Дону : РГУ ПС, 1999. - С. 103-107.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Bochkov K.A., Berezyatsky Y.F., Ryazantseva N.V. Interference pulses in equivalent representation. Problems and future development of automation equipment, communication and computer facilities on railway transport: col. of research papers / RSTU. – Rostov on Don: RSTU, 1999. – P. 103–107.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit15"><label>15</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Березняцкий Ю.Ф. Методы испытаний на помехозащищенность микроэлектронных систем обеспечения безопасности движения поездов : автореф. дис. …. канд. техн. наук / Белорус. гос. ун-т транспорта. - Гомель, 2003. - 24 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Berezyatsky Y.F. Methods of tests for interference immunity of microelectronic systems ensuring railway traffic safety: thesis for PhD/ Belarusian State University of Transport. – Gomel, 2003. – 24 p.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit16"><label>16</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Комягин С.И., Еряшев Д.И., Лафишев М.А. Необходимость и пути совершенствования электромагнитных испытаний. Технологии ЭМС. - 2010. - № 4. - С. 22-26.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Komyagin S.I., Eryashev D.I., Lafishev М.А. Necessity and ways of improvement of electromagnetic tests. EMC technologies. – 2010. – No 4. – P. 22-26.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
