Филиппов Б.И., Замятина Ю.В. Определение характеристик надёжности изготовленных образцов радиоэлектронных систем. Надежность. 2017;17(1):27-31. https://doi.org/10.21683/1729-2646-2017-17-1-27-31
Filippov B.I., Zamiatina Yu.V. Identification of dependability indicators of manufactured samples of radioelectronic systems. Dependability. 2017;17(1):27-31. https://doi.org/10.21683/1729-2646-2017-17-1-27-31
Послать статью по эл. почте (Необходимо имя пользователя (логин))
Связаться с автором (Необходимо имя пользователя (логин)) 
