Для цитирования:

Васин В.А., Ивашов Е.Н., Степанчиков С.В. НАДЕЖНОСТЬ ПЬЕЗОСКАНЕРОВ В ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ. Надежность. 2013;(1):92-114. https://doi.org/10.21683/1729-2646-2013-0-1-92-114

For citation:

Vasin V.A., Ivashov E.N., Stepanchikov S.V. RELIABILITY OF PIEZOELECTRIC SCANNERS IN PROBE MICROSCOPY. Dependability. 2013;(1):92-114. https://doi.org/10.21683/1729-2646-2013-0-1-92-114