Preview

Надежность

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:


Васин В.А., Ивашов Е.Н., Степанчиков С.В. НАДЕЖНОСТЬ ПЬЕЗОСКАНЕРОВ В ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ. Надежность. 2013;(1):92-114. https://doi.org/10.21683/1729-2646-2013-0-1-92-114

For citation:


Vasin V.A., Ivashov E.N., Stepanchikov S.V. RELIABILITY OF PIEZOELECTRIC SCANNERS IN PROBE MICROSCOPY. Dependability. 2013;(1):92-114. https://doi.org/10.21683/1729-2646-2013-0-1-92-114

Просмотров: 60


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1729-2646 (Print)
ISSN 2500-3909 (Online)