Полноэкранный режим

Для цитирования: Бочков К.А., Комнатный Д.В. МЕХАНИЗМЫ И ВЕРОЯТНОСТИ ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ СБОЕВ МИКРОЭЛЕКТРОННОЙ ЭЛЕМЕНТНОЙ БАЗЫ ПОД ДЕЙСТВИЕМ ИМПУЛЬСНЫХ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ПОМЕХ. Надежность. 2015;(3):65-72. https://doi.org/10.21683/1729-2646-2015-0-3-65-72

For citation: Bochkov K.A., Komnatny D.V. MECHANISMS AND PROBABILITIES OF FUNCTIONAL FAILURES OF MICROELECTRONIC ELEMENT BASE UNDER ELECTROMAGNETIC PULSE INTERFERENCE. Dependability. 2015;(3):65-72. (In Russ.) https://doi.org/10.21683/1729-2646-2015-0-3-65-72

Просмотров: 157

Обратные ссылки

  • Обратные ссылки не определены.


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1729-2646 (Print)
ISSN 2500-3909 (Online)