Для цитирования:

Панков Д.А., Панков И.А. Обнаружение системных дефектов цифровых устройств при имитации неисправностей с применением фаззинга. Надежность. 2023;23(4):51-58. https://doi.org/10.21683/1729-2646-2023-23-4-51-58

For citation:

Pankov D.A., Pankov I.A. Detecting system defects of digital devices in the course of malfunction imitation using fuzzing. Dependability. 2023;23(4):51-58. (In Russ.) https://doi.org/10.21683/1729-2646-2023-23-4-51-58