Для цитирования:

Кирпичников А.П., Васильев С.Н. ОСОБЕННОСТИ СОВРЕМЕННОЙ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ И ВОПРОСЫ ПОСТРОЕНИЯ СИСТЕМ УПРАВЛЕНИЯ ВЫСОКОЙ НАДЕЖНОСТИ И БЕЗОПАСНОСТИ. Надежность. 2017;17(3):10-16. https://doi.org/10.21683/1729-2646-2017-17-3-10-16

For citation:

Kirpichnikov A.P., Vasiliev S.N. PARTICULAR CHARACTERISTICS OF TODAY’S MICROELECTRONICS AND MATTERS OF HIGHLY DEPENDABLE AND SECURE CONTROL SYSTEMS DESIGN. Dependability. 2017;17(3):10-16. https://doi.org/10.21683/1729-2646-2017-17-3-10-16