Preview

Надежность

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:


Волков А.Н. АНАЛИЗ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ НАДЕЖНОСТИ ДЛИННО-КАНАЛЬНЫХ ПОЛЕВЫХ ТРАНЗИСТОРОВ С ПРИМЕНЕНИЕМ СТЕПЕННОЙ ЗАВИСИМОСТИ СРОКА СЛУЖБЫ TL ОТ ТОКА ПОДЛОЖКИ ISUB. Надежность. 2015;(4):47-56. https://doi.org/10.21683/1729-2646-2015-0-4-47-56

For citation:


Volkov A.N. ANALYSIS OF PREDICTION OF RELIABILITY OF LONG-CHANNEL FIELD-EFFECT TRANSISTORS WITH APPLICATION OF POWER-LAW DEPENDENCE OF LIFETIME TL ON SUBSTRATE CURRENT ISUB. Dependability. 2015;(4):47-56. (In Russ.) https://doi.org/10.21683/1729-2646-2015-0-4-47-56

Просмотров: 62


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1729-2646 (Print)
ISSN 2500-3909 (Online)