Для цитирования:

Волков А.Н. АНАЛИЗ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ НАДЕЖНОСТИ ДЛИННО-КАНАЛЬНЫХ ПОЛЕВЫХ ТРАНЗИСТОРОВ С ПРИМЕНЕНИЕМ СТЕПЕННОЙ ЗАВИСИМОСТИ СРОКА СЛУЖБЫ TL ОТ ТОКА ПОДЛОЖКИ I_SUB. Надежность. 2015;(4):47-56. https://doi.org/10.21683/1729-2646-2015-0-4-47-56

For citation:

Volkov A.N. ANALYSIS OF PREDICTION OF RELIABILITY OF LONG-CHANNEL FIELD-EFFECT TRANSISTORS WITH APPLICATION OF POWER-LAW DEPENDENCE OF LIFETIME TL ON SUBSTRATE CURRENT ISUB. Dependability. 2015;(4):47-56. https://doi.org/10.21683/1729-2646-2015-0-4-47-56