МЕХАНИЗМЫ И ВЕРОЯТНОСТИ ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ СБОЕВ МИКРОЭЛЕКТРОННОЙ ЭЛЕМЕНТНОЙ БАЗЫ ПОД ДЕЙСТВИЕМ ИМПУЛЬСНЫХ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ПОМЕХ
Аннотация
В статье рассмотрены расчетно-экспериментальные методы определения вероятности функциональных сбоев электронной элементной базы под действием электромагнитных импульсных помех. Осуществлен анализ свойств случайного процесса импульсных помех и физических механизмов воздействия помех на электронные узлы. Разработаны способы вычисления вероятности сбоев на базе представления о вероятностной природе помех. Показано, что выполненный анализ помехового воздействия позволяет обосновать выбор условий эквивалентности импульсов, что является актуальной проблемой электромагнитной совместимости.
Об авторах
К. А. Бочков
Белорусский государственный университет транспорта
Беларусь
Беларусь
доктор технических наук, профессор, проректор по научной работе,
priemnay@belsut.gomel.by
Д. В. Комнатный
Белорусский государственный университет транспорта
Беларусь
кандидат технических наук, доцент, докторант кафедры «Автоматики и телемеханика»
Беларусь
кандидат технических наук, доцент, докторант кафедры «Автоматики и телемеханика»
Список литературы
1. Шубинский И.Б. Функциональная надежность информационных систем. Методы анализа. - Ульяновск, типография «Печатный двор», 2012. - 296 с.
2. Коновалов Г.В., Тарасенко. И.М. Импульсные случайные процессы в электросвязи. - М. : Связь, 1973. - 304 с.
3. Иванов М.Т., Сергиенко А. Б., Ушаков В. Н. Радиотехнические цепи и сигналы. - Спб. : Питер, 2014. - 336 с.
4. Пирогов Ю.А., Солодов А.В. Повреждения интегральных схем в полях радиоизлучения. Журнал радиоэлектроники. - 2013. - № 6. - С. 10-15.
5. Добыкин В.Д., Куприянов А.И., Пономарев В.Г., Шустов Л.Н. Радиоэлектронная борьба: Силовое поражение радиоэлектронных систем. - М.: Вузовская книга, 2007. - 468 с.
6. Наумов Ю.Е., Аваев Н.А., Бедрековский М.А. Помехоустойчивость устройств на интегральных логических схемах. - М. : Советское радио, 1975. - 216 с.
7. Кечиев Л.Н. Проектирование печатных плат для цифровой быстродействующей аппаратуры. - М : ООО Группа «ИДТ», 2007. - 616 с.
8. Певницкий В.П., Полозок Ю.В. Статистические характеристики индустриальных радиопомех. - М. : Радио и связь, 1988. - 246 с.
9. Кравченко В.И. Грозозащита радиоэлектронных средств. - М. : Радио и связь, 1991. - 264 с.
10. Аполлонский С.М., Горский А.Н. Расчеты электромагнитных полей. - М.: Маршрут, 2006. - 992 с.
11. Бочков К.А. Теория и методы контроля электромагнитной совместимости микроэлектронных систем обеспечения безопасности движения поездов : дис. … д-ра техн. наук. 05.22.08 / Московский ин-т. инженеров трансп. - М, 1993. - 379 с. : ил.
12. Bochkov K.A. Principles of Achieving EMC of Microelectronic systems controlling major sequences of operations / K. A. Bochkov // Proceedings of 1994 International Symposium on Electromagnetic Compatibility / IEICE. - Tokyo : IEICE, 1994. - P. 610-613.
13. Bochkov K.A. Determination of EMC degree based on probability models of microelectronic systems ensuring railway traffic safety / K. A. Bochkov, I. E. Zakharov, N. V. Ryazantseva // Proceedings of International Symposium EMC’98, Rome, Italy, 1998 / University “La Sapienza”. - Roma : University “La Sapienza”, 1998. - P. 707-709.
14. Бочков К.А., Березняцкий Ю.Ф., Рязанцева Н.В. Импульсы помех в эквивалентном представлении. Проблемы и перспективы развития устройств автоматики, связи и вычислительной техники на железнодорожном транспорте : сб. науч. тр. / РГУ ПС. - Ростов на Дону : РГУ ПС, 1999. - С. 103-107.
15. Березняцкий Ю.Ф. Методы испытаний на помехозащищенность микроэлектронных систем обеспечения безопасности движения поездов : автореф. дис. …. канд. техн. наук / Белорус. гос. ун-т транспорта. - Гомель, 2003. - 24 с.
16. Комягин С.И., Еряшев Д.И., Лафишев М.А. Необходимость и пути совершенствования электромагнитных испытаний. Технологии ЭМС. - 2010. - № 4. - С. 22-26.
Для цитирования:
Бочков К.А., Комнатный Д.В. МЕХАНИЗМЫ И ВЕРОЯТНОСТИ ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ СБОЕВ МИКРОЭЛЕКТРОННОЙ ЭЛЕМЕНТНОЙ БАЗЫ ПОД ДЕЙСТВИЕМ ИМПУЛЬСНЫХ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ПОМЕХ. Надежность. 2015;(3):65-72. https://doi.org/10.21683/1729-2646-2015-0-3-65-72
For citation:
Bochkov K.A., Komnatny D.V. MECHANISMS AND PROBABILITIES OF FUNCTIONAL FAILURES OF MICROELECTRONIC ELEMENT BASE UNDER ELECTROMAGNETIC PULSE INTERFERENCE. Dependability. 2015;(3):65-72. https://doi.org/10.21683/1729-2646-2015-0-3-65-72
Просмотров: 422
Послать статью по эл. почте 