МЕТОДИКА ОЦЕНКИ ГАММА-ПРОЦЕНТНОЙ НАРАБОТКИ РАДИОЭЛЕКТРОННЫХ КОМПОНЕНТОВ ИНФОРМАЦИОННО-ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ СИСТЕМ ПО РЕЗУЛЬТАТАМ КРАТКОВРЕМЕННЫХ ИСПЫТАНИЙ
Аннотация
При проектировании информационно-измерительных систем выполняется поэлементная оценка показателей надежности. На работоспособность резисторов существенно влияют климатические условия. Предлагается методика оценки показателей надежности резисторов, которая используется при изменении их условий эксплуатации. На основе результатов испытаний на кратковременную безотказность в заданных условиях вычисляются показатели надежности резисторов путем прогнозирования значений электрических параметров резисторов в течение их наработки.
Об авторах
А. С. Ишков
Пензенский государственный университет
Россия
кандидат технических наук, доцент кафедры «Радиотехника и радиоэлектронные системы»
Россия
кандидат технических наук, доцент кафедры «Радиотехника и радиоэлектронные системы»
В. Д. Зуев
ОАО "НИИЭМП"
Россия
кандидат технических наук, начальник НПК-4, ученый секретарь
Россия
кандидат технических наук, начальник НПК-4, ученый секретарь
Список литературы
1. Ишков А.С. Методы повышения временных показателей надежности ИЭТ // Петербургский журнал электроники. - 2009. - №1. - с. 76 - 78.
2. ГОСТ 2.124-85 Единая система конструкторской документации. Порядок применения покупных изделий.
3. ОСТ 11 070.050-84 Конденсаторы и резисторы. Методы ускоренной оценки сохраняемости.
4. Острейковский В.А. Теория надежности. Учебник для вузов - М.: Высш. шк., 2003. - 463 с.
5. Тюрин Ю.Н., Макаров А.А. Анализ данных на компьютере. Изд. 3-е, перераб. и доп./Под ред. В. Э. Фигурнова - М.: ИНФРА-М, 2002. - 528 с., ил.
6. Гмурман В.Е. Теория вероятностей и математическая статистика: Учеб. пособие для вузов - 9-е изд., стер. - М.: Высш. шк., 2003. - 479 с., ил.
7. Крамер Г. Математические методы статистики - М.: Мир, 1975. -648 с.
8. Гнеденко Б.В. Математические методы в теории надежности. - М.: Наука, 1965. - 524 с.
Для цитирования:
Ишков А.С., Зуев В.Д. МЕТОДИКА ОЦЕНКИ ГАММА-ПРОЦЕНТНОЙ НАРАБОТКИ РАДИОЭЛЕКТРОННЫХ КОМПОНЕНТОВ ИНФОРМАЦИОННО-ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ СИСТЕМ ПО РЕЗУЛЬТАТАМ КРАТКОВРЕМЕННЫХ ИСПЫТАНИЙ. Надежность. 2015;(2):82-89. https://doi.org/10.21683/1729-2646-2015-0-2-82-89
For citation:
Ishkov A.S., Zuev V.D. EVALUATION METHODOLOGY OF C-PERCENTILE TIME TO FAILURE OF ELECTRONIC COMPONENTS IN INFORMATIONMEASURING SYSTEMS BY SHORT-TERM TEST RESULTS. Dependability. 2015;(2):82-89. https://doi.org/10.21683/1729-2646-2015-0-2-82-89
Просмотров: 233
Послать статью по эл. почте 