МЕТОДИЧЕСКИЕ ПОГРЕШНОСТИ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ СРЕДНЕГО РЕСУРСА ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ
https://doi.org/10.21683/1729-2646-2015-0-1-5-12
Аннотация
Представлены методики оценки средней наработки до отказа изделий электронной техники (MTTF) на основе использования -распределения для различных экспериментальных и справочных данных о надежности: интенсивности отказов, вероятности отказов, минимальной наработки, величины FIT. Отмечается, что прогнозные оценки MTTF на основе экспоненциального распределения завышены в 70-500 раз по сравнению с аналогичными оценками на основе DN-распределения.
Об авторах
Ю. Н. Кофанов
МИЭМ НИУ ВШЭ
Россия
доктор технических наук, профессор, президент Российской академии надежности, академик РАЕН и МАИ, профессор
Россия
доктор технических наук, профессор, президент Российской академии надежности, академик РАЕН и МАИ, профессор
В. П. Стрельников
Институт проблем математических машин и систем НАН Украины
Украина
доктор технических наук, академик Российской академии надежности, зам. директора по научной работе
Украина
доктор технических наук, академик Российской академии надежности, зам. директора по научной работе
Список литературы
1. Strelnikov V. The Status and Prospects of Reliability Technology - Part 1 // RAC Jornal. - 2001, N 1. - P. 1 - 4; Part 2 // RAC Jornal. - 2001, N 2. - P. 8 - 10.
2. Кофанов Ю.Н. Моделирование и обеспечение надёжности технических систем: Научное издание. - Москва: Энергоатомиздат, 2011, - 324 с.
3. Кофанов Ю.Н. Теоретические основы конструирования, технологии и надёжности радиоэлектронных средств: Учебник для вузов. - Москва: Радио и связь, 1991. - 360 с.
4. Шор Я.Б. Статистические методы анализа и контроля качества и надежности. - М.: Сов. радио, 1962. - 252 с.
5. Стрельников В.П., Федухин А.В. Оценка и прогнозирование надежности электронных элементов и систем. - К.: Логос, 2002. - 486 с.
6. Романов В. А. Количественная оценка надежности интегральных микросхем по результатам форсированных испытаний // ЭКиС. - Киев: VD MAIS, 2003, №10. - С. 3-6.
7. Reliability and Quality Report. Fourth Quarter 1996. - Motorola, Inc., 1996.
8. Грибов В.М., Кофанов Ю.Н., Стрельников В.П. Оценивание и прогнозирование надёжности бортового аэрокосмического оборудования: Под отв. редакцией Ю.Н. Кофанова. - М.: НИУ ВШЭ, 2013. - 496 с.
Рецензия
Для цитирования:
Кофанов Ю.Н., Стрельников В.П. МЕТОДИЧЕСКИЕ ПОГРЕШНОСТИ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ СРЕДНЕГО РЕСУРСА ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ. Надежность. 2015;(1):5-12. https://doi.org/10.21683/1729-2646-2015-0-1-5-12
For citation:
Kofanov Yu.N., Strelnikov V.P. METHODOLOGICAL IMPRECISION OF PREDICTION OF ELECTRONICS’ MEAN LIFE TIME. Dependability. 2015;(1):5-12. https://doi.org/10.21683/1729-2646-2015-0-1-5-12
Просмотров:
778
ISSN 1729-2646 (Print)
ISSN 2500-3909 (Online)
ISSN 2500-3909 (Online)
Послать статью по эл. почте 