sustainНадежностьDependability1729-26462500-3909RAMS Journal Limited liability company10.21683/1729-2646-2015-0-1-5-12sustain-77Research ArticleСТРУКТУРНАЯ НАДЕЖНОСТЬ. ТЕОРИЯ И ПРАКТИКАSTRUCTURAL RELIABILITY. THE THEORY AND PRACTICEМЕТОДИЧЕСКИЕ ПОГРЕШНОСТИ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ СРЕДНЕГО РЕСУРСА ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИMETHODOLOGICAL IMPRECISION OF PREDICTION OF ELECTRONICS’ MEAN LIFE TIMEКофановЮ. Н.KofanovYu. N.

доктор технических наук, профессор, президент Российской академии надежности, академик РАЕН и МАИ, профессор

Doctor of Technical Sciences, professor,  President of Russian Academy of Dependability, member of RAEN and MAI, professor

y.Kofanov@gmail.comСтрельниковВ. П.StrelnikovV. P.

доктор технических наук, академик Российской академии надежности, зам. директора по научной работе

Doctor of Technical Sciences, member of Russian Academy of Dependability, Deputy Director for Researches

vps@immsp.kiev.uaМИЭМ НИУ ВШЭРоссияMIEM NIU VSHERussian FederationИнститут проблем математических машин и систем НАН УкраиныУкраинаInstitute of Mathematic Machines and Systems Problems, Ukrainian National Academy of ScienceUkraine20150607201601512Copyright © Кофанов Ю.Н., Стрельников В.П., 20162016Кофанов Ю.Н., Стрельников В.П.Kofanov Y.N., Strelnikov V.P.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://www.dependability.ru/jour/article/view/77

Представлены методики оценки средней наработки до отказа изделий электронной техники (MTTF) на основе использования -распределения для различных экспериментальных и справочных данных о надежности: интенсивности отказов, вероятности отказов, минимальной наработки, величины FIT. Отмечается, что прогнозные оценки MTTF на основе экспоненциального распределения завышены в 70-500 раз по сравнению с аналогичными оценками на основе DN-распределения.

The paper presents the methods for evaluating the mean time to failure (MTTF) of electronics products based on the application of DN distribution for various experimental and reference data on reliability – failure rate, failure probabilities, minimal time to failure, FIT. It is noted that MTTF predictive estimates based on exponential distribution are overstated by 70-500 times as compared to those based on DN distribution.

надежностьквантильраспределение наработки до отказа (ресурс)средняя наработка до отказа (МТТF)reliabilityquantiletime to failure distribution (resource)mean time to failure (МТТF)ReferencesStrelnikov V. The Status and Prospects of Reliability Technology - Part 1 // RAC Jornal. - 2001, N 1. - P. 1 - 4; Part 2 // RAC Jornal. - 2001, N 2. - P. 8 - 10.Strelnikov V. The Status and Prospects of Reliability Technology – Part 1 // RAC Journal. – 2001, N 1. – P. 1 – 4; Part 2 // RAC Journal. – 2001, No. 2. – P. 8 – 10.Кофанов Ю.Н. Моделирование и обеспечение надёжности технических систем: Научное издание. - Москва: Энергоатомиздат, 2011, - 324 с.Kofanov Yu.N. Modelling and ensuring reliability of technical systems: Scientific edition. – Moscow: Energoatomizdat, 2011, – 324 p.Кофанов Ю.Н. Теоретические основы конструирования, технологии и надёжности радиоэлектронных средств: Учебник для вузов. - Москва: Радио и связь, 1991. - 360 с.Kofanov Yu.N. Theoretical bases of designing, technology and reliability of radioelectonics: Higher school textbook. – Moscow: Radio and communications, 1991. – 360 p.Шор Я.Б. Статистические методы анализа и контроля качества и надежности. - М.: Сов. радио, 1962. - 252 с.Shor Ya.B. Statistical methods of analysis and quality and reliability control. – M: Sov. radio, 1962. – 252 p.Стрельников В.П., Федухин А.В. Оценка и прогнозирование надежности электронных элементов и систем. - К.: Логос, 2002. - 486 с.Strelnikov V.P., Feduhkin A.V. Assessment and prediction of electronic components and systems reliability. – K: Logos, 2002. – 486 p.Романов В. А. Количественная оценка надежности интегральных микросхем по результатам форсированных испытаний // ЭКиС. - Киев: VD MAIS, 2003, №10. - С. 3-6.Romanov V.A. Quantitative assessment of integrated circuits reliability upon results of forced testing // EKiS. – Kiev: VD MAIS, 2003, No.10. – P. 3-6.Reliability and Quality Report. Fourth Quarter 1996. - Motorola, Inc., 1996.Reliability and Quality Report. Fourth Quarter 1996. – Motorola, Inc., 1996.Грибов В.М., Кофанов Ю.Н., Стрельников В.П. Оценивание и прогнозирование надёжности бортового аэрокосмического оборудования: Под отв. редакцией Ю.Н. Кофанова. - М.: НИУ ВШЭ, 2013. - 496 с.Gribov V.M., Kofanov Yu.N., Strelnikov V.P. Assessment and prediction of avionics reliability: Ed. Kofanov Yu.N. – M: NIU VSHE, 2013. – 496 p.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.