Preview

Надежность

Расширенный поиск

МЕТОДИЧЕСКИЕ ПОГРЕШНОСТИ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ СРЕДНЕГО РЕСУРСА ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ

https://doi.org/10.21683/1729-2646-2015-0-1-5-12

Полный текст:

Аннотация

Представлены методики оценки средней наработки до отказа изделий электронной техники (MTTF) на основе использования -распределения для различных экспериментальных и справочных данных о надежности: интенсивности отказов, вероятности отказов, минимальной наработки, величины FIT. Отмечается, что прогнозные оценки MTTF на основе экспоненциального распределения завышены в 70-500 раз по сравнению с аналогичными оценками на основе DN-распределения.

Об авторах

Ю. Н. Кофанов
МИЭМ НИУ ВШЭ
Россия
доктор технических наук, профессор, президент Российской академии надежности, академик РАЕН и МАИ, профессор


В. П. Стрельников
Институт проблем математических машин и систем НАН Украины
Украина
доктор технических наук, академик Российской академии надежности, зам. директора по научной работе


Список литературы

1. Strelnikov V. The Status and Prospects of Reliability Technology - Part 1 // RAC Jornal. - 2001, N 1. - P. 1 - 4; Part 2 // RAC Jornal. - 2001, N 2. - P. 8 - 10.

2. Кофанов Ю.Н. Моделирование и обеспечение надёжности технических систем: Научное издание. - Москва: Энергоатомиздат, 2011, - 324 с.

3. Кофанов Ю.Н. Теоретические основы конструирования, технологии и надёжности радиоэлектронных средств: Учебник для вузов. - Москва: Радио и связь, 1991. - 360 с.

4. Шор Я.Б. Статистические методы анализа и контроля качества и надежности. - М.: Сов. радио, 1962. - 252 с.

5. Стрельников В.П., Федухин А.В. Оценка и прогнозирование надежности электронных элементов и систем. - К.: Логос, 2002. - 486 с.

6. Романов В. А. Количественная оценка надежности интегральных микросхем по результатам форсированных испытаний // ЭКиС. - Киев: VD MAIS, 2003, №10. - С. 3-6.

7. Reliability and Quality Report. Fourth Quarter 1996. - Motorola, Inc., 1996.

8. Грибов В.М., Кофанов Ю.Н., Стрельников В.П. Оценивание и прогнозирование надёжности бортового аэрокосмического оборудования: Под отв. редакцией Ю.Н. Кофанова. - М.: НИУ ВШЭ, 2013. - 496 с.


Для цитирования:


Кофанов Ю.Н., Стрельников В.П. МЕТОДИЧЕСКИЕ ПОГРЕШНОСТИ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ СРЕДНЕГО РЕСУРСА ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ. Надежность. 2015;(1):5-12. https://doi.org/10.21683/1729-2646-2015-0-1-5-12

For citation:


Kofanov Y.N., Strelnikov V.P. METHODOLOGICAL IMPRECISION OF PREDICTION OF ELECTRONICS’ MEAN LIFE TIME. Dependability. 2015;(1):5-12. (In Russ.) https://doi.org/10.21683/1729-2646-2015-0-1-5-12

Просмотров: 210


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1729-2646 (Print)
ISSN 2500-3909 (Online)