Preview

Надежность

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:


Волков А.Н. Модель прогнозирования надежности наноразмерных полевых транзисторов, учитывающая возможное влияние космического излучения. Надежность. 2016;16(3):18-22. https://doi.org/10.21683/1729-2646-2016-16-3-18-22

For citation:


Volkov A.N. Model forforecasting the reliability of nanosized field-effect transistors considering possible influence of cosmic rays. Dependability. 2016;16(3):18-22. (In Russ.) https://doi.org/10.21683/1729-2646-2016-16-3-18-22

Просмотров: 9


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1729-2646 (Print)
ISSN 2500-3909 (Online)