Факторы надежности программного обеспечения микропроцессорных защит
https://doi.org/10.21683/1729-2646-2023-23-3-73-77
Аннотация
Цель. Анализ особенностей надежности функционирования программ, характерных для критически важных приложений, работающих в режиме реального времени, применительно к микропроцессорным защитам. К числу основных характеристик функционирования релейных защит относятся показатели надежности. С переходом исполнения таких защит на микропроцессорную основу кроме аппаратной надежности возникла необходимость характеризовать ее функционирование и надежностью программного обеспечения. Важность решаемых ею задач в процессе эксплуатации относит ее к программам, используемым в критически важных приложениях и работающим в реальном режиме. Это, в свою очередь, ужесточает требования к оценке их надежности.
Методы. Сравнительный анализ позволил оценить общность рассмотренных факторов надежности функционирования программного обеспечения рассматриваемых приложений, и в то же время выделить некоторые особенности, характерные для исполнения релейной защиты на микропроцессорах.
Результаты. Приведен пример подобной оценки, показывающий, что при всех сложностях полного тестирования программ микропроцессорной защиты вклад ошибок в программах пока составляет 2,5% от общего вклада.
Заключение. Показано, что программы микропроцессорных защит относятся к программам критически важных приложений, работающих в режиме реального времени, что позволяет использовать опыт и характеристики такого программного обеспечения при решении задач релейной защиты. Тем не менее, приведены некоторые особенности, характерные именно для релейной защиты на микропроцессорной основе. Определены дальнейшие задачи.
Ключевые слова
Для цитирования:
Успенский М.И. Факторы надежности программного обеспечения микропроцессорных защит. Надежность. 2023;23(3):73-77. https://doi.org/10.21683/1729-2646-2023-23-3-73-77
For citation:
Uspensky M.I. Dependability factors of microprocessor protection software. Dependability. 2023;23(3):73-77. (In Russ.) https://doi.org/10.21683/1729-2646-2023-23-3-73-77