Preview

Надежность

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:


Кузьминова А.В., Попов В.Д. Влияние низкоинтенсивного облучения на быстродействие КМОП микросхем. Надежность. 2024;24(3):61-66. https://doi.org/10.21683/1729-2646-2024-24-3-61-66

For citation:


Kuzminova A.V., Popov V.D. The effect of low-intensity radiation on the speed of CMOS microcircuits. Dependability. 2024;24(3):61-66. (In Russ.) https://doi.org/10.21683/1729-2646-2024-24-3-61-66



Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1729-2646 (Print)
ISSN 2500-3909 (Online)