Preview

Надежность

Расширенный поиск
Доступ открыт Открытый доступ  Доступ закрыт Доступ платный или только для Подписчиков

Метод определения показателя долговечности микросхем

https://doi.org/10.21683/1729-2646-2019-19-3-3-6

Полный текст:

Аннотация

Целью данной статьи является приведение в соответствие требований по долговечности, предъявляемых к системам космической техники с длительными сроками эксплуатации, с тем фактом, что в нормативных документах на микросхемы показатели долговечности отсутствуют. Так, в соответствии с ОСТ В 11 0998-99 в требованиях по надежности присутствуют только показатели безотказности и сохраняемости. С другой стороны, в требованиях по надежности, предъявляемых к системам космической техники, помимо требований к безотказности и сохраняемости одно из первостепенных мест занимают требования по долговечности функционирования, которые составляют обычно величину гамма-процентного ресурса Тр.γ = 100 000 ч и более при γ = 99,9%. Следовательно, для такого рода систем с длительными сроками эксплуатации требуется определить показатели долговечности, которые отсутствуют в технических условиях или других документах, по которым производится поставка. Определение таких показателей с помощью проведения испытаний на долговечность требует больших денежных и временных затрат. Поэтому был предложен аналитический метод, согласно которому нижнюю границу оценки для гамма-процентного ресурса Тр.γ микросхем можно получить, приравнивая вероятность безотказной работы микросхемы за время Тр.γ к вероятности ненаступления ресурсных отказов, которые переводят микросхему в предельное состояние, после чего ее эксплуатация должна быть прекращена. В этом случае для получения величины Тр.γ = 99,9% = 100 000 ч нерезервированная микросхема или другое изделие должны иметь интенсивность отказов 10-8 1/ч. Для более сложных микросхем получить требуемое значение Тр.γ=99,9% = 100 000 ч не представляется возможным. В данной статье предлагается расширить использование предложенного метода определения показателя долговечности с учетом того факта, что в рассматриваемых системах не допускается отказ одного любого изделия и с этой точки зрения используются различные способы резервирования аппаратуры. Под нагруженным резервом понимается резерв, который содержит один или несколько резервных модулей, находящихся в режиме основного модуля. Под облегченным резервом понимается резерв, который содержит один или несколько модулей, находящихся в менее нагруженном режиме, чем основной модуль, до начала выполнения ими функций основного модуля. Рассмотрены различные варианты резервирования сложной микросхемы, при которых удается получить заданные высокие показатели долговечности. Получена формула для расчета показателя долговечности в более общем случае, когда микросхема входит в состав модуля, который резервируется другим идентичным модулем. В этом случае, если второй модуль находится в облегченном резерве, то можно обеспечить высокий показатель долговечности микросхемы. Если же второй модуль находится в нагруженном резерве, то заданный показатель долговечности микросхемы не обеспечивается. Рассмотренный метод определения показателя долговечности может быть использован и при других способах резервирования модулей в системе.

Об авторах

Б. А. Долгополов
ЗАО НТЦ «Модуль»
Россия
Борис А. Долгополов – ведущий инженер


Ю. Г. Зайко
ЗАО НТЦ «Модуль»
Россия
Юрий Г. Зайко – кандидат технических наук, доцент, старший научный сотрудник, начальник отдела


В. А. Михайлов
ЗАО НТЦ «Модуль»
Россия

Виктор А. Михайлов – доктор технических наук, заместитель Генерального директора по бортовым разработкам 



Список литературы

1. ГОСТ 27.002-2015. Надежность в технике. Термины и определения [Текст]. – Введ. 2017–03–01. – М.: Стандартинформ, 2016. – IV, 23 с.

2. ОСТ 4.012.013-84. Аппаратура радиоэлектронная. Определение показателей долговечности [Текст].

3. ОСТ В 11 0998-99. Микросхемы интегральные. Общие технические условия [Текст].

4. Нетес В.А. Новый международный терминологический стандарт по надежности [Текст] / В.А. Нетес // Надежность. – 2016. – №3. – С. 54-58.

5. Справочник «Надежность электрорадиоизделий», – М.: 22 ЦНИИИ МО РФ, 2006.

6. ЗайкоЮ.Г. Оценка надежности систем со смешанным резервированием [Текст] / Ю.Г. Зайко, М.Б. Смирнов // Надежность. – 2004. – №4(11). – С. 40-45.

7. Половко А.М. Основы теории надежности [Текст] / А.М. Половко. – М.: Изд-во «Наука», 1964.

8. БорисовЮ.И. О выборе архитектуры отказоустойчивых вычислительных комплексов для космических аппаратов [Текст] / Ю.И. Борисов // Надежность. – 2004. – №2(9). – С. 46-51.

9. ЗайкоЮ.Г. Имитационная модель для расчета показателей надежности резервированных радиоэлектронных систем [Текст] / Ю.Г. Зайко, Л.Н. Искандарова, А.В. Трахтомиров // Надежность. – 2016. – № 3. – С. 8-17.


Для цитирования:


Долгополов Б.А., Зайко Ю.Г., Михайлов В.А. Метод определения показателя долговечности микросхем. Надежность. 2019;19(3):3-6. https://doi.org/10.21683/1729-2646-2019-19-3-3-6

For citation:


Dolgopolov B.A., Zayko Y.G., Mikhaylov V.A. A method of identifying the durability indicator of microcircuitry. Dependability. 2019;19(3):3-6. (In Russ.) https://doi.org/10.21683/1729-2646-2019-19-3-3-6

Просмотров: 26


ISSN 1729-2646 (Print)
ISSN 2500-3909 (Online)