<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">sustain</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Надежность</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Dependability</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">1729-2646</issn><issn pub-type="epub">2500-3909</issn><publisher><publisher-name>RAMS Journal Limited liability company</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.21683/1729-2646-2024-24-2-24-37</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">sustain-586</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>СТРУКТУРНАЯ НАДЕЖНОСТЬ. ТЕОРИЯ И ПРАКТИКА</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>STRUCTURAL RELIABILITY. THE THEORY AND PRACTICE</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Особенности обнаружения ошибок при контроле вычислений в цифровых устройствах по признаку самодвойственности булевых функций</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>The specificity of error detection as part of computing testing in digital devices based on self-duality of Boolean functions</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Ефанов</surname><given-names>Д. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Efanov</surname><given-names>D. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Ефанов Дмитрий Викторович – доктор технических наук, профессор, Действительный член Международной Академии транспорта, член Института инженеров электротехники и электроники (IEEE); заместитель генерального директора по научно-исследовательской работе; профессор</p><p>ул. Политехническая, д. 29, лит. Б, Санкт-Петербург, 195251</p><p>ул. Образцова, д. 9, стр. 9, Москва, 127994</p><p>пр-д 1-й Темирйулчилар, 1, Мирабадский район, Ташкент, Республика Узбекистан, 100167</p><p>ул. Фучика, д. 4, лит. К, СанктПетербург, 192102.</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Dmitry V. Efanov, Doctor of Engineering, Professor; Deputy Director General for Research</p><p>29, lit. B Politekhnicheskaya St., Saint Petersburg, 195251</p><p>9, bldg 9 Obraztsova St., Moscow, 127994</p><p>1 Temiryolchilar St., Tashkent, 100167</p><p>4, lit. K Fuchika St., Saint Petersburg, 192102</p></bio><email xlink:type="simple">TrES-4b@yandex.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Погодина</surname><given-names>Т. С,</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Pogodina</surname><given-names>T. S.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Погодина Татьяна Сергеевна – студент, кафедра «Автоматика, телемеханика и связь на железнодорожном транспорте»</p><p>ул. Образцова, д. 9, стр. 9, Москва, Российская Федерация, 127994</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Tatiana S. Pogodina, student</p><p>9, bldg 9 Obraztsova St., Moscow, 127994</p></bio><email xlink:type="simple">pogodina-ts@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Высшая школа транспорта Института машиностроения, материалов и транспорта Санкт-Петербургского политехнического университета Петра Великого; «Научно-исследовательский и проектный институт «Транспортной и строительной безопасности»; Российский университет транспорта (МИИТ); Ташкентский государственный транспортный университет</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Higher School of Transportation, Institute of Engineering, Materials, and Transportation, Peter the Great St. Petersburg Polytechnic University; Research and Design Institute for Transportation and Construction Safety; Russian University of Transport (MIIT); Tashkent State Transport University</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><aff-alternatives id="aff-2"><aff xml:lang="ru"><institution>Российский университет транспорта (МИИТ)</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Russian University of Transport (MIIT)</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2024</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>21</day><month>05</month><year>2024</year></pub-date><volume>24</volume><issue>2</issue><fpage>24</fpage><lpage>37</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Ефанов Д.В., Погодина Т.С., 2024</copyright-statement><copyright-year>2024</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Ефанов Д.В., Погодина Т.С.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Efanov D.V., Pogodina T.S.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.dependability.ru/jour/article/view/586">https://www.dependability.ru/jour/article/view/586</self-uri><abstract><p>Цель. Установить особенности обнаружения ошибок при самодвойственном контроле вычислений устройствами автоматики, а также предложить способ организации контроля вычислений с обнаружением любых неисправностей из заданной модели. Методы. Использованы методы технической диагностики дискретных систем, булевой алгебры, комбинаторики. Результаты. Проанализированы особенности обнаружения ошибок на выходах самодвойственных цифровых устройств комбинационного типа. Формализованы условия обнаружения и не обнаружения ошибок на выходах самодвойственных комбинационных схем, которые позволяют на практике путем анализа потенциальных ошибок на их выходах организовывать полностью самопроверяемые схемы встроенного контроля. При этом отмечается, что если полного покрытия всех ошибок на выходах самодвойственных схем не удается достичь при контроле вычислений только по признаку принадлежности функций классу самодвойственных, то в ряде случаев это возможно за счет дополнительного контроля принадлежности формируемых кодовых векторов заранее выбранному избыточному коду. Установлено, за счет каких особенностей для реальных цифровых устройств потенциально возможно большое количество компенсируемых при самодвойственном контроле ошибок. Теоретически определено, что в реальных практических приложениях при самодвойственном контроле вычислений чем больше число входных переменных, тем выше вероятность не обнаружения ошибки за счет большего числа сочетаний искажений на выходах. Но чем больше число реализуемых устройством функций, тем выше и вероятность обнаружения ошибки. Тем не менее, на практике нужно индивидуально подходить к процессу организации контроля вычислений по признаку самодвойственности вычисляемых функций для каждого из цифровых устройств. Приведены некоторые результаты экспериментов, демонстрирующие особенности обнаружения ошибок на выходах самодвойственных комбинационных схем с использованием различных схемотехнических способов, основанных на сжатии сигналов от объектов контроля с применением модифицированных кодов Хэмминга (кодов Сяо). Заключение. Установленные в работе условия обнаружения ошибок на выходах самодвойственных цифровых устройств позволяют на практике синтезировать самопроверяемые вычислительные системы с улучшенными показателями контролепригодности по сравнению с традиционными подходами к их реализации.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>Aim. To identify the specificity of error detection as part of self-dual calculations testing by automation devices, as well as to propose a method for organising calculations testing that would allow detecting any malfunctions from the defined model. Methods. The paper used methods of technical diagnostics of discrete systems, Boolean algebra, and combinatorics. Results. The specificity of error detection at the outputs of self-dual digital devices of combination type were analysed. The conditions for detecting and not detecting errors at the outputs of self-dual combinational circuits were formalised. In practice, the latter allow – by analysing potential errors at the outputs – creating fully self-checking circuits. At the same time, it is noted that if full coverage of all errors at the outputs of self-dual circuits cannot be achieved when computing-testing only on the basis of whether a function belongs to the self-dual class, then in some cases that can be made possible through additional checking of whether the generated code vectors belong to a pre-selected redundant code. It is established, what features of actual digital devices enable large numbers of errors compensated for by self-dual testing. It is theoretically determined that, in real practical applications with self-dual computing testing, the larger is the number of input variables, the higher is the probability of not detecting an error due to a larger number of combinations of distortions at the outputs. However, the greater is the number of functions implemented by a device, the higher is the probability of error detection. Nonetheless, in practice, each case of computations testing based on the self-duality of calculated functions should be treated individually for each digital device. The paper presents some experimental results that demonstrate the specificity of error detection at the outputs of self-dual combinational circuits using various circuit design methods based on compressing the signals received from the monitored facilities using modified Hamming codes (Hsiao codes). Conclusion. The conditions for detecting errors at the outputs of self-dual digital devices established in this paper allow practically synthesising self-checking computer systems with improved checkability as compared with conventional approaches to their implementation.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>самопроверяемые цифровые устройства</kwd><kwd>самодвойственные комбинационные схемы</kwd><kwd>обнаружение ошибок в вычислениях</kwd><kwd>контроль вычислений по признаку самодвойственности булевых функций</kwd><kwd>компенсация ошибки при самодвойственном контроле</kwd><kwd>условия обнаружения ошибок при самодвойственном контроле</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>self-checking digital devices</kwd><kwd>self-dual combinational circuits</kwd><kwd>computational error detection</kwd><kwd>computations checking based on self-duality of Boolean functions</kwd><kwd>error compensation as part of self-dual checking</kwd><kwd>conditions for error detection as part of self-dual checking</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Согомонян Е.С., Слабаков Е.В. Самопроверяемые устройства и отказоустойчивые системы. М.: Радио и связь, 1989. 208 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sogomonyan E.S., Slabakov E.V. [Self-checking devices and fault-tolerant systems]. Moscow: Radio i sviaz; 1989. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Lala P.K. Self-Checking and Fault-Tolerant Digital Design. San Francisco: Morgan Kaufmann Publishers, 2001. 216 p.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Lala P.K. Self-Checking and Fault-Tolerant Digital Design. San Francisco: Morgan Kaufmann Publishers; 2001.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Fujiwara E. Code Design for Dependable Systems: Theory and Practical Applications. John Wiley &amp; Sons, 2006. 720 p.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Fujiwara E. Code Design for Dependable Systems: Theory and Practical Applications. John Wiley &amp; Sons; 2006.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ubar R., Raik J., Vierhaus H.-T. Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip (Premier Reference Source). Information Science Reference, Hershey, New York, IGI Global, 2011. 578 p. 5. Дрозд А.В., Харченко В.С., Антощук С.Г. и др. Рабочее диагностирование безопасных информационно-управляющих систем / Под ред. А.В. Дрозда и В.С. Харченко. Харьков: Национальный аэрокосмический университет им. Н.Е. Жуковского «ХАИ», 2012. 614 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ubar R., Raik J., Vierhaus H.-T. Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip (Premier Reference Source). Information Science Reference, Hershey (New York), IGI Global; 2011.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ярмолик В.Н. Контроль и диагностика вычислительных систем. Минск: «Бестпринт», 2019. 387 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Drozd A.V., Kharchenko V.S., Antoshchuk S.G. et al. Drozd A.V., Kharchenko V.S., editors. [Operational diagnostics of secure information management systems]. National Aerospace University – “Kharkiv Aviation Institute”, NAU “KhAI”; 2012. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Матросова А.Ю., Чернышов С.В., Ким О.Х., Николаева Е.А. Построение последовательности, обнаруживающей робастно тестируемые неисправности задержек путей в схемах с памятью // Автоматика и телемеханика. 2021. № 11. С. 148-168. DOI: 10.31857/ S0005231021110106</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Yarmolik V.N. [Supervision and diagnostics of computer systems]. Minsk: “Bestprint”; 2019. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Reynolds D.A., Meize G. Fault Detection Capabilities of Alternating Logic // IEEE Transactions on Computers. 1978. Vol. C-27. Issue 12. Pp. 1093-1098. DOI: 10.1109/ TC.1978.1675011</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Matrosova A.Y., Chernyshov S.V., Kim O.K., Nikolaeva E.A. Constructing a sequence detecting robustly testable path delay faults in sequential circuits. Automation and Remote Control 2021;11:1949-1965. DOI: 10.31857/S0005231021110106. (in Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Аксенова Г.П. Восстановление в дублированных устройствах методом инвертирования данных // Автоматика и телемеханика. 1987. № 10. С. 144-153.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Reynolds D.A., Meize G. Fault Detection Capabilities of Alternating Logic. IEEE Transactions on Computers 1978;C-27(12):1093-1098. DOI: 10.1109/ TC.1978.1675011.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гессель М., Мошанин В.И., Сапожников В.В и др. Обнаружение неисправностей в самопроверяемых комбинационных схемах с использованием свойств самодвойственных функций // Автоматика и телемеханика. 1997. № 12. С. 193-200.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Aksenova G.P. [Restoration in redundant devices using data inversion]. Automation and Remote Control 1987;10:144-153. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Crama Y., Hammer P.L. Boolean Function: Theory, Algorithms, and Applications. Cambridge University Press, 2011. 687 p.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gessel M., Moshanin V.I., Sapozhnikov V.V. et al. [Fault detection in self-checking combinational circuits using the properties of self-dual functions]. Automation and Remote Control 1997;12:193-200. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гессель М., Морозов А.В., Сапожников В.В. и др. Логическое дополнение – новый метод контроля комбинационных схем // Автоматика и телемеханика. 2003. № 1. С. 167-176.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Crama Y., Hammer P.L. Boolean Function: Theory, Algorithms, and Applications. Cambridge University Press; 2011.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гессель М., Морозов А.В., Сапожников В.В. и др. Контроль комбинационных схем методом логического дополнения // Автоматика и телемеханика. 2005. № 8. С. 161-172.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gessel M., Morozov A.V., Sapozhnikov V.V., Sapozhnikov Vl.V. Logic complement, a new method of checking the combinational circuits. Automation and Remote Control 2003;64(1):153-161. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гессель М., Дмитриев А.В., Сапожников В.В. и др. Самотестируемая структура для функционального обнаружения отказов в комбинационных схемах // Автоматика и телемеханика. 1999. № 11. С. 162-174.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Goessel M., Morozov A.V., Sapozhnikov V.V., Sapozhnikov Vl.V. Checking combinational circuits by the method of logic complement. Automation and Remote Control 2005;66(8):1336-1346. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Сапожников В.В., Сапожников Вл.В., Гессель М. Самодвойственные дискретные устройства. СПб: Энергоатомиздат (Санкт-Петербургское отделение), 2001. 331 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gessel M., Dmitriev A.V., Sapozhnikov V.V., Sapozhnikov Vl.V. A self-testable structure for functional fault detection in combination circuits. Automation and Remote Control 1999;11:162-174. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit15"><label>15</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Сапожников В.В., Сапожников Вл.В., Валиев Р.Ш. Синтез самодвойственных дискретных систем. СПб: Элмор, 2006. 220 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sapozhnikov V.V., Sapozhnikov Vl.V., Goessel M. [Self-dual discrete devices]. St. Petersburg: Energoatomizdat (St. Petersburg branch); 2001. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit16"><label>16</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Göessel M., Ocheretny V., Sogomonyan E. et al. New Methods of Concurrent Checking: Edition 1. Dordrecht: Springer Science+Business Media B.V., 2008. 184 p.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sapozhnikov V.V., Sapozhnikov Vl.V., Valiev R.Sh. [Synthesis of self-dual discrete systems]. St. Petersburg: Elmor; 2006. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit17"><label>17</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ЕфановД.В., Погодина Т.С. Исследование свойств самодвойственных комбинационных устройств с контролем вычислений на основе кодов Хэмминга // Информатика и автоматизация. 2023. Т. 22. № 2. C. 349-392. DOI: 10.15622/ia.22.2.5</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Göessel M., Ocheretny V., Sogomonyan E. et al. New Methods of Concurrent Checking: Edition 1. Dordrecht: Springer Science+Business Media B.V.; 2008.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit18"><label>18</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ефанов Д.В., Погодина Т.С. Анализ эффективности схем встроенного контроля на основе оценки принадлежности вычисляемых функций классу самодвойственных и предварительного сжатия сигналов с применением линейных кодов // Программная инженерия. 2023. Т. 14. № 4. С. 175-186. DOI: 10.17587/prin.14.4.175-186</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Efanov D.V., Pogodina T.S. Properties Investigation of Self-Dual Combinational Devices with Calculation Control Based on Hamming Codes. Informatics and Automation 2023;22(2):349-392. DOI: 10.15622/ia.22.2.5. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit19"><label>19</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Efanov D., Sapozhnikov V., Sapozhnikov Vl. et al. Self-Dual Complement Method up to Constant-Weight Codes for Arrangement of Combinational Logical Circuits Concurrent Error-Detection Systems // Proceedings of 17th IEEE East-West Design &amp; Test Symposium (EWDTS’2019), Batumi, Georgia, September 13-16, 2019. Pp. 136-143. DOI: 10.1109/EWDTS.2019.8884398</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Efanov D. V., Pogodina T. S. Efficiency Analysis of Concurrent Error-Detection Circuits on the Basis of Assessment by Belonging of Calculated Functions to Self-Dual Class and Preliminary Compression of Signals Using Linear Codes. Software Engineering 2023;14(4):175-186. DOI: 10.17587/prin.14.175-186. (in Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit20"><label>20</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Efanov D.V., Pivovarov D.V. The Hybrid Structure of a Self-Dual Built-In Control Circuit for Combinational Devices with Pre-Compression of Signals and Checking of Calculations by Two Diagnostic Parameters // Proceedings of 19th IEEE East-West Design &amp; Test Symposium (EWDTS’2021), Batumi, Georgia, September 10-13, 2021. Pp. 200-206. DOI: 10.1109/EWDTS52692.2021.9581019</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Efanov D., Sapozhnikov V., Sapozhnikov Vl. et al. Self-Dual Complement Method up to Constant-Weight Codes for Arrangement of Combinational Logical Circuits Concurrent Error-Detection Systems. In: Proceedings of the 17th IEEE East-West Design &amp; Test Symposium (EWDTS’2019); Batumi (Georgia); 2019. Pp. 136-143. DOI: 10.1109/EWDTS.2019.8884398.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit21"><label>21</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гессель М., Морозов А.А., Сапожников В.В. и др. Построение самопроверяемых комбинационных схем на основе свойств самодвойственных функций // Автоматика и телемеханика. 2000. № 2. С. 151-163.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Efanov D.V., Pivovarov D.V. The Hybrid Structure of a Self-Dual Built-In Control Circuit for Combinational Devices with Pre-Compression of Signals and Checking of Calculations by Two Diagnostic Parameters. In: Proceedings of the 19th IEEE East-West Design &amp; Test Symposium (EWDTS’2021), Batumi (Georgia); 2021. Pp. 200-206. DOI: 10.1109/EWDTS52692.2021.9581019.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit22"><label>22</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Поспелов Д.А. Логические методы анализа и синтеза схем. М.: «Энергия», 1974. 368 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gessel M., Morozov A.A., Sapozhnikov V.V., Sapozhnikov Vl.V. Design of self-testable combination circuits using the properties of self-dual functions. Automation and Remote Control 2000;2:151-163. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit23"><label>23</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ефанов Д.В., Погодина Т.С. Самодвойственные цифровые устройства с контролем вычислений по кодам Сяо // Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика. 2023. № 63. С. 118-136. DOI: 10.17223/19988605/63/14</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Pospelov, D.А. [Logical methods of analysis and synthesis of schemes]. Moscow: Energia; 1974. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit24"><label>24</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Carter W.C., Duke K.A., Schneider P.R. SelfChecking Error Checker for Two-Rail Coded Data // United States Patent Office, filed July 25, 1968, ser. No. 747533, patented Jan. 26, 1971, N.Y. 10 p.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Efanov D.V., Pogodina T.S. Self-dual digital devices with calculations testing by Hsiao codes. Tomsk State University Journal of Control and Computer Science 2023;63:118- 136. DOI: 10.17223/19988605/63/14. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit25"><label>25</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Багхдади А.А.А., Хаханов В.И., Литвинова Е.И. Методы анализа и диагностирования цифровых устройств (аналитический обзор) // Автоматизированные системы управления и приборы автоматики. 2014. № 166. С. 59-74.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Carter W.C., Duke K.A., Schneider P.R. Self-Checking Error Checker for Two-Rail Coded Data. United States Patent Office, filed July 25, 1968, ser. No. 747533, patented Jan. 26, 1971, N.Y. 26.Baghdadi A.A.A., Hahanov V.I., Litvinova E.I. Digital system analysis and diagnosis methods (analytical review). Management Information System and Devices 2014;166:59- 74. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit26"><label>26</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Sentovich E.M., Singh K.J., Lavagno L. et al. SIS: A System for Sequential Circuit Synthesis // Electronics Research Laboratory, Department of Electrical Engineering and Computer Science, University of California, Berkeley, 4 May 1992. 45 p.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sentovich E.M., Singh K.J., Lavagno L. et al. SIS: A System for Sequential Circuit Synthesis. Electronics Research Laboratory, Department of Electrical Engineering and Computer Science, University of California, Berkeley; 1992.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit27"><label>27</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Sentovich E.M., Singh K.J., Moon C. et al. Sequential Circuit Design Using Synthesis and Optimization // Proceedings IEEE International Conference on Computer Design: VLSI in Computers &amp; Processors, 11-14 October 1992, Cambridge, MA, USA, USA. Pp. 328-333. DOI: 10.1109/ICCD.1992.276282</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sentovich E.M., Singh K.J., Moon C. et al. Sequential Circuit Design Using Synthesis and Optimization. In: Proceedings IEEE International Conference on Computer Design: VLSI in Computers &amp; Processors, 11-14 October 1992, Cambridge, MA (USA). Pp. 328-333. DOI: 10.1109/ICCD.1992.276282.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
