<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">sustain</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Надежность</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Dependability</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">1729-2646</issn><issn pub-type="epub">2500-3909</issn><publisher><publisher-name>RAMS Journal Limited liability company</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.21683/1729-2646-2019-19-1-4-9</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">sustain-305</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>СТРУКТУРНАЯ НАДЕЖНОСТЬ. ТЕОРИЯ И ПРАКТИКА</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>STRUCTURAL RELIABILITY. THE THEORY AND PRACTICE</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Обеспечение надежности технических средств путем их троирования и расчетверения</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Ensuring the dependability of technical facilities through triplication and quadrupling</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Тюрин</surname><given-names>С. Ф.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Tyurin</surname><given-names>S. F.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Сергей Ф. Тюрин – доктор технических наук, профессор, профессор кафедры «Автоматика и телемеханика» Пермского национального исследовательского политехнического университета, профессор кафедры Математического обеспечения вычислительных систем ПГНИУ</p><p>Пермь</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Sergey F. Tyurin, Doctor of Engineering, Professor, Professor of Automation and Remote Control, Perm National Research Polytechnic University. Professor of Computer Software, Perm State National Research</p><p>Perm</p></bio><email xlink:type="simple">tyurinsergfeo@yandex.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Пермский национальный исследовательский политехнический университет, Пермский государственный национальный исследовательский университет</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Perm National Research Polytechnic University; &#13;
Perm State National Research University</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2019</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>12</day><month>03</month><year>2019</year></pub-date><volume>19</volume><issue>1</issue><fpage>4</fpage><lpage>9</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Тюрин С.Ф., 2019</copyright-statement><copyright-year>2019</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Тюрин С.Ф.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Tyurin S.F.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.dependability.ru/jour/article/view/305">https://www.dependability.ru/jour/article/view/305</self-uri><abstract><p>Резервирование, в частности, структурное является одним из основных способов повышения надёжности, обеспечивает отказо- и сбоеустойчивость элементов, устройств и систем. Согласно МПК – международной патентной классификации, класс устройств и способов G06F11/18 – «using passive fault-masking of the redundant circuits, e.g. by quadding or by majority decision circuits». У нас это трактуется как «повышение надёжности за счёт использования пассивного маскирования сбоев, например, с помощью расчетверения (quadding) или мажоритарных решающих схем». При этом, очевидно, что«fault-masking» – это маскирование не только сбоев, но и отказов. Мажоритарные решающие схемы или просто мажоритары в минимальном варианте реализуют выбор «2 из 3-х». Принятый термин «расчетверение» на взгляд автора не слишком благозвучный, ибо он может вызвать ассоциацию с четвертованием, но ничего не поделаешь. Такая избыточность согласно выше приведённой формулировки вроде как не требует специальной решающей схемы. Однако, это выполняется не всегда. В случае выдачи результирующего сигнала после учетверённой логики, например, на исполнительный орган, всё равно нужна схема выбора «3 из 4-х». Другой вариант повышения надёжности фиксирует класс G06F 11/20 – «using active fault-masking, e.g. by switching out faulty elements or by switching in spare elements». У нас он переводится как «с использованием маскирования сбоев с помощью замещения, например, выключения сбойных элементов или переключения на резервные элементы». Здесь пропущено слово «активного», таким образом имеем активную и пассивную отказоустойчивость. В статье исследуется пассивная отказоустойчивость, использующая троирование и расчетверение и сравниваются соответствующие вероятности безотказной (бессбойной) работы. При этом используется распределение Вейбулла, которое наиболее адекватно описывает надёжность в смысле радиационной стойкости в условиях воздействия тяжёлых заряженных частиц. Показывается, что в ряде случаев расчетверение имеет меньшую избыточность, чем троирование. Предлагается формула, описывающая условия предпочтительности расчетверения на транзисторном уровне.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>Redundancy, e.g. structural redundancy, is one of the primary methods of improving the dependability, ensures failsafety and fault tolerance of components, devices and systems. According to the International Patent Classification (IPC), the class of systems and methods G06F11/18 is defined as «using passive fault-masking of the redundant circuits, e.g. by quadrupling or by majority decision circuits». Obviously, «fault-masking» masks not only faults, but failures as well. The majority decision circuits (MDC) in the minimal configuration implements a «2-out-of-3» choice. According to the above definition, such redundancy should not require a special decision circuit. However, that is not always the case. In cases when the resulting signal out of a quadruple logic is delivered to, for instance, an executive device, a «3-outof-4» selection circuit is required anyway. Another dependability-improving solution is defined by class G06F 11/20, «using active fault-masking, e.g. by switching out faulty elements or by switching in spare elements». The word «active» is missing here, thus we have active and passive fault tolerance. The paper examines passive fault tolerance that uses triplication and quadrupling and compares the respective probabilities of no-failure.The Weibull distribution is used that most adequately describes dependability in terms of radiation durability under the effects of heavy ions. It shows that in a number of cases quadrupling has a lower redundancy than triplication. A formula is proposed that describes the conditions of preferability of quadrupling at transistor level.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>надёжность</kwd><kwd>резервирование</kwd><kwd>троирование</kwd><kwd>расчетверение</kwd><kwd>отказы</kwd><kwd>сбои</kwd><kwd>интенсивность отказов</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>dependability</kwd><kwd>redundancy</kwd><kwd>triplication</kwd><kwd>quadrupling</kwd><kwd>failures</kwd><kwd>faults</kwd><kwd>failure rate</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ 27.002–2015. Надежность в технике Основные понятия. Термины и определения [Текст]. – Введ. 2017–03–01. – М.: Старнартинформ, 2016. – 23 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">GOST 27.002-2015. Dependability in technics. Terms and definitions. Moscow: Standartinform; 2016 [in Russian].</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Shankarnarayanan Ramaswamy, Leonard Rockett, Dinu Patel and others. ARadiation Hardened Reconfigurable FPGA [Электронный ресурс]. – URL: https://pdfs.semanticscholar.org/57f8/ff540360eadceafc062797b7a01065f6f9cc.pdf (дата обращения 30.03.2018).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ramaswamy S, Rockett L, Patel D et al. A Radiation Hardened Reconfigurable FPGA, &lt;https://pdfs.semanticscholar.org/57f8/ff540360eadceafc062797b7a01065f6f9cc.pdf&gt;, 2018 [accessed 30.03.2018].</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Борисов Ю.И. О выборе архитектуры отказоустойчивых вычислительных комплексов для космических аппаратов [Текст] / Ю.И. Борисов // Надежность. – 2004. – № 2(21). – С.46-51.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Borisov Yul. О vybore arkhitektury otkazoustoychivykh vychislitelnykh kompleksov dlya kosmicheskikh apparatov [On the selection of the architecture of failsafe computer systems for spacecraft]. Dependability 2004;2(21):46-51 [inRussian].</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Шебе Х. Предельная надёжность структурного резервирования [Текст] / Х. Шебе, И.Б. Шубинский // Надежность. – 2016. – № 1(56). – С.3-8.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Schabe H, Shubinsky IB. Limit reliability of structural redundancy. Dependability 2016;16(1):9-13.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Carl Carmichael. Triple Module Redundancy Design Techniques for Virtex FPGAs [Электронный ресурс].URL: https://www.xilinx.com/support/documentation/application_notes/xapp197.pdf (дата обращения 30.03.2018)</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Carl Carmichael. Triple Module Redundancy Design Techniques for Virtex FPGAs, &lt;https://www.xilinx.com/support/documentation/applicationnotes/xapp197.pdf&gt;, 2018 [accessed 30.03.2018].</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Шубинский И.Б. Надежные отказоустойчивые информационные системы. Методы синтеза [Текст]: методы синтеза / И.Б. Шубинский. – М.: Журнал «Надежность», 2016. – 544 с.: ил., табл.; 23 см.; ISBN 9785-7572-0399-7 : 500 экз.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Shubinsky IB. Nadiozhnie otkazoustoychivie iirformatsionnie sistemy. Metody sinteza [Dependable failsafe information systems. Synthesis methods]. Moscow: Dependability Jonmal; 2016 [inRussian]. ISBN 978-5-75720399-7.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Васильев Н.П. Аналитическая оценка вероятности успешной адаптации к отказам модульных вычислительных систем с многоуровневой активной защитой [Текст] / Н.П. Васильев, И.Б. Шубинский // Известия высших учебных заведений. Приборостроение. – 1994. – Т. 37. – № 3-4. – С. 47.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">VasilievNP, Shubinsky IB. Analiticheskayaotsenka veroiatnosti ouspeshnoy adaptatsii к otkazam modulnykh vychislitelnykh sistem s mnogourovnevoy aktivnoy zashchitoy [Analytical evaluation of the probability of successful adaptation to failures of modular computer systems with multilevel active protection]. Izvestiya vysshikh uchebnykh zavedeniy. Priborostroenie. 1994;37(3-4):47 [inRussian].</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Тарасов А.А. Минимизация времени функциональной реконфигурации распределенной отказоустойчивой системы [Текст] / А.А. Тарасов // Надежность. – 2010. – № 2(37). – С.24-29.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Tarasov AA. Minimizatsiya vremeni funktsionalnoy rekonfiguratsii raspredeleimoy otkazoustoychivoy sistemy [Minimizing the time of functional reconfiguration of a distributed failsafe system]. Dependability 2010;2(37):2429 [inRussian].</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Тюрин С.Ф. Скользящее резервирование толерантных элементов [Текст] / С.Ф. Тюрин // Надежность. – 2017. – Т. 17. – № 1(60). – С.17-21.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Tyurin SF. Moving redundancy of tolerant elements. DependabiUty 2017;17(1):17-21.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Weibull W. A statistical distribution function of wide applicability [Text] / W. Weibull // Journal of Applied Mechanics, Transactions of ASME. – 1951. – Vol. 18. – Pp 293–297.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">WeibuU W. A statistical distribution function of wide applicability. Journal of Applied Mechanics, Transactions of ASME 1951;18:293-297.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Carver A. Mead. Introduction to VLSI Systems / Carver A. Mead, Lynn Conway [Электронный ресурс]. – URL: https://www.researchgate.net/publication/234388249_Introduction_to_VLSI_systems (дата обращения 30.03.2018).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Mead CA, Conway L. Introduction to VLSI Systems, &lt;https://www.researchgate.net/publication/234388249_Introduction_to_VLSI_systems&gt;, 2018 [accessed 30.03.2018].</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
