<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">sustain</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Надежность</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Dependability</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">1729-2646</issn><issn pub-type="epub">2500-3909</issn><publisher><publisher-name>RAMS Journal Limited liability company</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.21683/1729-2646-2017-17-2-24-30</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">sustain-210</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>СТРУКТУРНАЯ НАДЕЖНОСТЬ. ТЕОРИЯ И ПРАКТИКА</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>STRUCTURAL RELIABILITY. THE THEORY AND PRACTICE</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Обработка данных, полученных при испытаниях на надежность</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Processing of dependability testing data</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Филиппов</surname><given-names>Б. И.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Filippov</surname><given-names>B. I.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>кандидат технических наук, доцент, доцент кафедры защиты информации,</p><p>630099, Новосибирск, ул. Урицкого, д. 17, кв. 13</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Candidate of Engineering, Assistant Professor, Senior Lecturer in Information Protection, </p><p>17 Uritskogo Str., app. 13, 630099 Novosibirsk</p></bio><email xlink:type="simple">Fillippov-boris@rambler.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Труш</surname><given-names>Т. Б.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Trush</surname><given-names>T. B.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>студент кафедры защиты информации,</p><p> 630017, Новосибирск, ул. Б.Богаткова, д. 192/5, кв. 183</p></bio><bio xml:lang="en"><p>student, Information Protection Department, </p><p>192/5 B. Bogatkova Str., app. 183, 630017 Novosibirsk</p></bio><email xlink:type="simple">Tanuza95@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Новосибирский государственный технический университет</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Novosibirsk State Technical University</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2017</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>15</day><month>06</month><year>2017</year></pub-date><volume>17</volume><issue>2</issue><fpage>24</fpage><lpage>30</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Филиппов Б.И., Труш Т.Б., 2017</copyright-statement><copyright-year>2017</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Филиппов Б.И., Труш Т.Б.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Filippov B.I., Trush T.B.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.dependability.ru/jour/article/view/210">https://www.dependability.ru/jour/article/view/210</self-uri><abstract><sec><title>Цель</title><p>Цель. Развитие радиоэлектронной промышленности вызывает быстрый рост функциональности выпускаемых изделий, что в свою очередь приводит к усложнению структуры радиоэлектронных систем (РЭС) при одновременном повышении требований к их надёжности. Используемые модели имеют ряд недостатков, главным из которых является тот факт, что они позволяют получить точную оценку показателей безотказности только в отдельных (частных) случаях. Такая оценка пригодна для подтверждения требований технического задания, но она не предоставляет возможности провести анализ надёжности РЭС после изготовления опытной партии аппаратуры. Поэтому задача определения характеристик надёжности изготовленных образцов РЭС представляется актуальной.</p></sec><sec><title>Методы</title><p>Методы. Рассматривается апостериорный анализ надёжности РЭС, который выполняется после изготовления опытной партии аппаратуры с целью определения её характеристик надёжности. Такие испытания необходимы потому, что на стадии проектирования устройства конструктор не располагает полными априорными сведениями, которые позволили бы заранее определить показатели надёжности с достаточно  высокой достоверностью. Важным источником сбора информации о надёжности является система сбора данных о работе изделий в процессе их эксплуатации. Существуют два основных вида испытаний на надёжность. Один из них – определительные испытания, задачей которых является оценка показателей надёжности. Он характерен для крупносерийных изделий. Другой вид испытаний – контрольные испытания, задачей которых является проверка соответствия техническим условиям показателя надёжности системы. Второму виду испытаний и посвящена данная работа.</p></sec><sec><title>Результаты</title><p>Результаты. Необходимо ответить на вопрос, соответствуют ли характеристики надёжности изделия (изготовленной РЭС) заданным требованиям, предусмотренным техническими условиями на изготовление изделия. Для решения этой задачи используется математический аппарат статистической теории гипотез. Рассматриваются две гипотезы: гипотеза H0 – среднее время наработки на отказ t*=T0 задаётся требованиями ТУ (изделие хорошее); гипотеза H1 – среднее время наработки на отказ t*=T1&lt;T0 – альтернатива (изделие плохое). Процедура проверки гипотез имеет тот недостаток, что качество решения определяется после проведения испытаний. Такая процедура решения задачи проверки гипотез не является оптимальной. В работе рассмотрена последовательная процедура проверки гипотез (процедура Вальда), которая предполагает принятие решения после каждого отказа и остановку испытаний, если возможно принятие решения с заданным качеством. Показан алгоритм проверки и дан пример определения соответствия закона распределения полученной выборки показательному или другому закону распределения по критерию χ2.</p></sec><sec><title>Выводы</title><p>Выводы. Показано, что при использовании процедуры испытаний [n, Б, r] качество решения будет таким же, как и для процедуры [n, В, r], если при этом обеспечивается такое же время испытаний t. При последовательной процедуре, если заранее не известны число отказов r и длительность испытаний, то используется комбинированный метод (смешанная процедура), когда дополнительно задается предельное число отказов r0 и к правилу решения добавляется условие: если r &lt; r0, то применяется последовательная процедура; если r = r0, то применяется обычная процедура. Показан алгоритм проверки соответствия закону распределения полученной выборки w1(yi) показательному или другому закону распределения по критерию χ2. Работа может представлять интерес для инженеров – разработчиков радиоэлектронных систем.</p></sec></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><sec><title>Aim</title><p>Aim. The development of the electronics industry is associated with a fast growth of the products functionality, which in turn causes increasing structural complexity of the radioelectronic systems (RES) with simultaneously more pressing dependability requirements. The currently used methods have several shortcomings, the most important of which is that they allow accurately evaluating reliability indicators only in individual cases. This type of estimation can be used for verification of compliance with specifications, but it does not enable RES dependability analysis after the manufacture of the pilot batch of equipment. That is why the task of identification of dependability indicators of manufactured radioelectronic systems is of relevance.</p></sec><sec><title>Methods</title><p>Methods. The paper examines the a posteriori analysis of RES dependability analysis that is performed after the manufacture of the pilot batch of equipment in order to identify its dependability characteristics. Such tests are necessary because at the design stage the design engineer does not possess complete a priori information that would allow identifying the dependability indicators in advance and with a sufficient accuracy. An important source of dependability information is the system for collection of data on product operational performance. There are two primary types of dependability tests. One of them is the determinative test intended for evaluation of dependability indicators. It is typical for mass-produced products. Another type of test is the control test designed to verify the compliance of a system’s dependability indicator with the specifications. This paper is dedicated to the second type of tests.</p></sec><sec><title>Results</title><p>Results. The question must be answered whether the product (manufactured RES) dependability characteristics comply with the requirements of the manufacturing specifications. This task is solved with the mathematical tools of the statistical theory of hypotheses. Two hypotheses are under consideration: hypothesis H0, mean time to failure t*=T0 as per the specifications (good product); hypothesis H1, mean time to failure t*=T1&lt;T0, alternative (bad product). The hypothesis verification procedure has a disadvantage that consist in the fact that the quality of the solution is identified after the test. Such procedure of hypothesis verification is not optimal. The paper examines the sequential procedure of hypothesis verification (Wald test) that involves decision-making after each failure and interruption of the test if a decision with specified quality is possible. An algorithm is shown for compliance verification of the resulting sample distribution law with the exponential rule or other distribution law over criterion χ2.</p></sec><sec><title>Conclusions</title><p>Conclusions. It was shown that the test procedure [n, B, r] ensures the quality of decision identical to that of the procedure [n, V, r] provided the testing time t is identical. Under the sequential procedure, if the number of failures r and testing time are not known from the beginning, a combined method is used (mixed procedure), when additionally the failure threshold limit r0 is defined and the decision rule is complemented with the condition: if r &lt; r0, the sequential procedure is used; if r = r0, normal procedure is used. An algorithm is shown for compliance verification of the resulting sample w1(yi) distribution law with the exponential rule or other distribution law over criterion χ2. The paper may be of interest to radioelectronic systems design engineers.</p></sec></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>радиоэлектронная система</kwd><kwd>процедуры испытаний</kwd><kwd>время безотказной работы</kwd><kwd>длительность испытаний</kwd><kwd>правило Неймана-Пирсона</kwd><kwd>процедура Вальда</kwd><kwd>критерий χ2</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>radioelectronic system</kwd><kwd>test procedures</kwd><kwd>no-failure operation time</kwd><kwd>test duration</kwd><kwd>Neyman-Pearson rule</kwd><kwd>Wald procedure</kwd><kwd>χ2  criterion</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Жаднов В.В., Полесский С.Н. Проектная оценка надёжности радиотехнических систем/ В.В. Жаднов, С. Н. Полесский//Надёжность и качество: тр. Международного симпоз. в 2 т. Т.1/ под ред. Н. К. Юркова. Пенза: Изд-во Пенз. Гос. Ун-та, 2006.С. 24– 29.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Zhadnov VV, Polessky SN. Proektnaya  otsenka nadiozhnosti radiotekhnicheskikh system.Nadiozhnost i kachestvo: tr. Mezhdunar. simpoz.: v 2 t. T. 1 / pod red.Yurkova NK[Engineering estimate of dependability of radiotechnical systems. Dependability and quality: proceedings of international symposium: in 2 vol. Volume 1.Yurkov NK, editor]. Penza: Penza State University Publishing; 2006 [in Russian].</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Жаднов В.В., Сарафанов А.В. Управление качеством при проектировании теплонагруженных радиоэлектронных средств/В. В. Жаднов, А. В. Сарафанов. М.: Солон-Пресс. 2004. 464 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Zhadnov VV, Sarafanov AV. O upravlenie kachestvom pri proektirovanii teplonagruzhennykh radioelektronnykh sredstv [Quality management in the design of thermally loaded radiolectronics facilities]. Moscow: Solon-Press; 2004 [in Russian].</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Артюхова М.А., Жаднов В.В., Полесский С.Н. Метод учёта влияния системы менеджмента надёжности предприятия при расчётной оценке показателей надёжности электронных средств/ М.А. Артюхова, В.В. Жаднов, С.Н. Полесский //Радiоелектронiка, iнформатика, управлiння. – 2013. – №2. – С. 48– 53.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Artiukhova MA, Zhadnov VV, Polessky SN. Metod ouchiota vliania sistemy menedzhmenta nadiozhnosti predpriyatia pri raschiotnoy otsenke pokazatley nadiozhnosti elektronnikh sredstv [Method for accounting of the impact of enterprise dependability management system in estimation of dependability indicators of electronic facilities]. Radioelekpronika, informatika, ouparvlinnia 2013;2:48–53 [in Russian].</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Филиппов Б.И. Априорный анализ надёжности радиотехнических систем без восстановления/ Б.И. Филиппов // Известия ВолгГТУ, серия Электроника, измерительная техника, радиотехника и связь, выпуск 12.– 2015. – № 11 (176) . – С. 97-103.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Filippov BI.Apriorny analiz nadiozhnosti radiotekhnic heskikh sistem bez vosstanovlenia [A priori dependability analysis of radiotechnical facilities without recovery]. IzvestiaVolgGTU, seria Elektronika, izmeritelnaya tekhnika, radiotekhnika i sviaz 2015;11(176):97-103 [in Russian].</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Левин Б.Р. Теория надёжности радиотехнических систем/ Б.Р. Левин.М.:Сов.Радио,1978. – 264 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Levin BR. Teoria nadiozhnosty radiotekhnicheskikh sistem [Dependability theory of radiotechnical systems]. Moscow: Sovietskoye Radio; 1978 [in Russian].</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Филиппов Б.И. Апостериорный анализ надёжности радиоэлектронных систем/ Б.И. Филиппов // Вестник АГТУ, серия Управление, вычислительная техника и информатика. – 2015. – № 4. – С. 81-91.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Filippov BI. Aposteriorny analiz nadiozhnosti radiotekhnicheskikh sistem [A posteriori dependability analysis of radiotechnical facilities]. Vestnik AGTU, seria Oupravlenie, vychislitelnaya tekhnika i informatika 2015;4:81-91 [in Russian].</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
