<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">sustain</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Надежность</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Dependability</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">1729-2646</issn><issn pub-type="epub">2500-3909</issn><publisher><publisher-name>RAMS Journal Limited liability company</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.21683/1729-2646-2013-0-1-115-136</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">sustain-15</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>СТРУКТУРНАЯ НАДЕЖНОСТЬ. ТЕОРИЯ И ПРАКТИКА</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>STRUCTURAL RELIABILITY. THE THEORY AND PRACTICE</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>КОНЦЕПЦИЯ ВХОДНОГО КОНТРОЛЯ МАТЕРИАЛОВ И КОМПЛЕКТУЮЩИХ, ПОСТУПАЮЩИХ В ПРОИЗВОДСТВО</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>CONCEPT OF INCOMING INSPECTION OF MATERIALS AND COMPONENTS COMING INTO PRODUCTION</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Медведев</surname><given-names>А. М.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Medvedev</surname><given-names>A. M.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>доктор технических наук, профессор, профессор кафедры «Технология приборостроения»</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Doctor of technical sciences, Professor of the Chair of Instrument Making Technology</p></bio><email xlink:type="simple">medvedevam@bk.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Мылов</surname><given-names>Г. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Mylov</surname><given-names>G. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>директор производственного технического комплекса «Печатные платы»</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Director of Production and Technical Complex Printed Circuit Board</p></bio><email xlink:type="simple">pcb@grpz.ryazan.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Московский авиационный институт</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Moscow Aviation Institute</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><aff-alternatives id="aff-2"><aff xml:lang="ru"><institution>ОАО " Государственный Рязанский приборосторительный завод"</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>JSC Ryazan State Instrument Making Plant</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2013</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>05</day><month>07</month><year>2016</year></pub-date><volume>0</volume><issue>1</issue><fpage>115</fpage><lpage>136</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Медведев А.М., Мылов Г.В., 2016</copyright-statement><copyright-year>2016</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Медведев А.М., Мылов Г.В.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Medvedev A.M., Mylov G.V.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.dependability.ru/jour/article/view/15">https://www.dependability.ru/jour/article/view/15</self-uri><abstract><p>Предложена стратегия входного контроля комплектующих в зависимости от уровня дефектности партий с учетом затрат на устранение последствий попадания дефектных компонентов и материалов в готовую продукцию. Рассматриваются стоимостные характеристики сплошного, выборочного и отсутствия входного контроля материалов и комплектующих, поступающих в производство.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The paper offers the strategy of incoming inspection of components according to a level of deficiency of lots, with expenses for elimination of consequences of defective components coming into finished goods taken into account. The paper considers cost characteristics of complete, sample and uncontrolled incoming inspection of materials and components coming into production.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>надежность</kwd><kwd>электронные компоненты</kwd><kwd>производство электроники</kwd><kwd>контроль</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>reliability</kwd><kwd>electronic components</kwd><kwd>basic materials</kwd><kwd>manufacture of electronic units</kwd><kwd>inspection</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ 24297-87. Входной контроль продукции. Основные положения.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">ГОСТ 24297-87. Входной контроль продукции. Основные положения.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Бекишев А.П., Медведев А.М. Входной контроль электронных компонентов. / Компоненты и технологии. 2008. № 10. С. 161-164.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Бекишев А.П., Медведев А.М. Входной контроль электронных компонентов. / Компоненты и технологии. 2008. № 10. С. 161-164.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Федоров В.К., Сергеев Н.П., Кондрашин Ф.Ф. Контроль и испытания в проектировании и производстве радиоэлектронных средств. Москва: Техносфера, 2005. – 504 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Федоров В.К., Сергеев Н.П., Кондрашин Ф.Ф. Контроль и испытания в проектировании и производстве радиоэлектронных средств. Москва: Техносфера, 2005. – 504 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Фролов А.Д. Теоретические основы конструирования и надежности радиоэлектронной аппаратуры. М.: Высшая школа, 1970. С. 457.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Фролов А.Д. Теоретические основы конструирования и надежности радиоэлектронной аппаратуры. М.: Высшая школа, 1970. С. 457.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ануфриев Д.Л. Конструкционные методы повышения надежности интегральных схем: учеб. Пособие. Минск: Интегралполиграф, 2007. – 2007. – 264 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ануфриев Д.Л. Конструкционные методы повышения надежности интегральных схем: учеб. Пособие. Минск: Интегралполиграф, 2007. – 2007. – 264 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">М. Горлов, А. Строганов, А. Андреев. Входной контроль полупроводниковых изделий. / CHIP NEWS, № 3(66). Март, 2002. С. 40-46.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">М. Горлов, А. Строганов, А. Андреев. Входной контроль полупроводниковых изделий. / CHIP NEWS, № 3(66). Март, 2002. С. 40-46.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Медведев А., Можаров В., Мылов Г. Печатные платы. Современное состояние базовых материалов // Электроника. Наука. Технология. Бизнес. 2011, № 6. С. 148 – 162.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Медведев А., Можаров В., Мылов Г. Печатные платы. Современное состояние базовых материалов // Электроника. Наука. Технология. Бизнес. 2011, № 6. С. 148 – 162.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Технологии в производстве электроники. Часть III. Гибкие печатные платы / Под общей редакцией А.М. Медведева и Г.В. Мылова – М.: «Группа ИДТ», 2008. – 488 с., ил., табл.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Технологии в производстве электроники. Часть III. Гибкие печатные платы / Под общей редакцией А.М. Медведева и Г.В. Мылова – М.: «Группа ИДТ», 2008. – 488 с., ил., табл.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
