<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">sustain</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Надежность</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Dependability</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">1729-2646</issn><issn pub-type="epub">2500-3909</issn><publisher><publisher-name>RAMS Journal Limited liability company</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.21683/1729-2646-2013-0-1-32-54</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">sustain-14</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>СТРУКТУРНАЯ НАДЕЖНОСТЬ. ТЕОРИЯ И ПРАКТИКА</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>STRUCTURAL RELIABILITY. THE THEORY AND PRACTICE</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>ИМИТАЦИОННОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ В ЗАДАЧАХ ОЦЕНКИ НАДЕЖНОСТИ ОТКАЗОУСТОЙЧИВЫХ ЭЛЕКТРОННЫХ СРЕДСТВ</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>SIMULATION MODELLING IN ESTIMATING RELIABILITY OF FAIL-SAFE ELECTRONIC EQUIPMENT</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Жаднов</surname><given-names>В. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Zhadnov</surname><given-names>V. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>кандидат технических наук, доцент</p></bio><bio xml:lang="en"><p>PhD, Associate professor</p></bio><email xlink:type="simple">jadnov@mitme.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Тихменев</surname><given-names>А. Н.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Tikhmenev</surname><given-names>A. N.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>магистр техники и технологий, аспирант</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Master of technical science, postgraduate student</p></bio><email xlink:type="simple">alextikhmenev@gmail.com</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Московский государственный институт электроники и математики (технический университет)</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Moscow State Institute of Electronics and Mathematics (technical university)</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2013</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>05</day><month>07</month><year>2016</year></pub-date><volume>0</volume><issue>1</issue><fpage>32</fpage><lpage>54</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Жаднов В.В., Тихменев А.Н., 2016</copyright-statement><copyright-year>2016</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Жаднов В.В., Тихменев А.Н.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Zhadnov V.V., Tikhmenev A.N.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.dependability.ru/jour/article/view/14">https://www.dependability.ru/jour/article/view/14</self-uri><abstract><p>Предприятия отечественной радиопромышленности, занимающиеся разработкой и производством электронных средств (ЭС) для космических аппаратов (КА), сталкиваются с проблемами обеспечения надежности, и, в первую очередь, безотказности. Об этом свидетельствуют как отказы при проведении приемо-сдаточных испытаний ЭС, так и аварии при эксплуатации КА. Одной из причин такой ситуации является применение устаревших и неточных методов оценки надежности ЭС КА на этапе проектирования, где закладывается та надежность, которая будет реализована при изготовлении и поддерживаться при эксплуатации.</p><p>С другой стороны, использование «нижних» оценок показателей безотказности может привести к снижению конкурентоспособности ЭС КА, так как в этом случае для повышения надежности необоснованно используют различные дополнительные способы, что ведет к ухудшению экономических, массогабаритных и других показателей. Поэтому повышение точности расчетной оценки надежности ЭС КА с длительными сроками активного существования, особенно для ЭС, в которых для обеспечения надежности используются и резервирование, и реконфигурация, является актуальной задачей.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>Enterprises of Russia’s radio industry engaged in development and production of electronic instrumentation (EI) for space vehicles (SV), face problems of insuring reliability and, first of all, problems of failurefree operation. Failures during EI acceptance tests and accidents at SV operation are real evidences of mentioned problems. One of the reasons of such situation is application of out-of-date and inaccurate methods of estimating the reliability of SV EI at the design stage where developers embed the reliability that will be realized during production and supported at the operation stage.</p><p>On the other hand, use of “lower” estimates of failure-free operation parameters can lead to decrease of SV EI competitiveness, as this way in order to enhance reliability, manufacturers unreasonably use various additional ways that lead to deterioration of economic, mass-dimensional and other indices. Therefore, increase of accuracy of estimating the reliability of SV EI with long terms of active existence is a pressing problem, in particular for EI wherein redundancy as well as reconfiguration is used to ensure reliability.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>надежность</kwd><kwd>электронные средства</kwd><kwd>отказоустойчивость</kwd><kwd>имитационное моделирование</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>reliability</kwd><kwd>electronic equipment</kwd><kwd>fail-safety</kwd><kwd>simulation modeling</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ 27.002-89. Надежность в технике. Термины и определения.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">GOST 27.002-89. Reliability in technical equipment. Terms and definitions.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Жаднов В.В., Лазарев Д.В. Модели характеристик надежности составных частей РЭА. / Надежность: Научно-технический журнал. № 4 (11), 2004. - с. 15-23.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Zhadnov V.V., Lasarev D.V. Simulator of electronic radio equipment reliability characteristics of components. / Reliability: Scientific and technical journal. No. 4 (11), 2004. – pp. 15-23.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Федухин А.В. Моделирование надежности восстанавливаемой резервированной системы со структурой типа «k из n». / Математичні машини і системи, 2008, № 4.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Feduhin A.V. Modelling of a restorable redundant system with the structure like “k out of n”. / Mathematical machines and systems, 2008, No. 4.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Задорожный В.Н., Рафалович С.А. Решение уравнений в переключательных функциях на GPSS WORLD. / Автоматизированные системы обработки информации и управления в УНИРС: Сб. докл. студенч. науч.-практ. конф. - Омск: ОмГТУ, 2007. - с. 31-34.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Zadorozhny V.N., Rafalovich S.A. Solving equations in switching functions on GPSS WORLD. / Automated systems of information processing and management in UNIPS university: Collection of reports of theoretical and practical workshop. – Omsk: OmGTU, 2007. – pp. 31-34.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">John J. Black, O.O. Mejabi. Simulation of Complex Manufacturing Equipment Reliability Using Object Oriented Methods. / Reliability Engineering &amp; System Safety, 2004.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">John J. Black, Mejabi O.O. Simulation of Complex Manufacturing Equipment Reliability Using Object Oriented Methods. / Reliability Engineering and System Safety, 2004.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Тихменев А.Н. Применение языка GPSS WORLD для моделирования отказов электронных средств со сложной структурой резервирования. / Надёжность и качество: Труды Международного симпозиума: в 2-х т. // Под ред. Н.К. Юркова. - Пенза: ПГУ, 2011 - 1 т. - с. 333-335.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Tikhmenev A.N. Application of GPSS WORLD language for failure modelling of electronic instrumentation with complex structure of redundancy. / Reliability and quality: Conference proceedings of the International symposium: in 2 v. // Edited by N.K.Jurkov. – Penza: PGU, 2011 – 1 v. -pp. 333-335.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Тихменев А.Н. Язык описания отказов электронных средств с реконфигурируемой структурой. / Научно-техническая конференция студентов, аспирантов и молодых специалистов МИЭМ: Тез. докладов. - М.: МИЭМ, 2010. - c. 137.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Tihmenev A.N. Language for failure description of electronic instrumentation with reconfigurable structure. / Scientific and technical conference of students, post-graduate students and young experts MIEM: Brief outline reports – M.: MIEM, 2010. – p. 137.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Жаднов В.В., Тихменев А.Н. Моделирование компонентов электронных средств с реконфигурируемой структурой. / Надёжность и качество: Труды Международного симпозиума: в 2-х т. // Под ред. Н.К. Юркова. - Пенза: ПГУ, 2010 - 1 т. - с. 330-331.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Zhadnov V.V., Tikhmenev A.N. Modelling of electronic instrumentation components with reconfigurable structure. / Reliability and quality: Conference proceedings of the International symposium: in 2 v. // Edited by N.K.Jurkov. – Penza: PGU, – 1 v. – pp. 330-331.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Жаднов В.В., Полесский С.Н., Тихменев А.Н. Разработка моделей надежности для проектных исследований надежности радиоэлектронной аппаратуры. / Радиовысотометрия-2010: Сб. тр. Третьей Всероссийской научно-технической конференции. // Под ред. А.А. Иофина, Л.И. Пономарева. - Екатеринбург: Из-во «Форт Диалог-Исеть», 2010. - с. 200-201.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Zhadnov V.V., Polessky S.N., Tikhmenev A.N. Development of reliability models for design researches of radio-electronic equipment reliability. / Radio altimeter 2010: Proceedings. The third All-Russia scientific and technical conference. // Edited by. A.A.Iofina, L.I.Ponomareva. – Ekaterinburg: Publishing House “Fort Dialogue-Iset”, 2010. – pp. 200-201.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
